2005年07月28日

非鉄金属,チタン,シリコン,合金,検査,試験方法,測定方法 など : JIS規格リスト(H.非鉄金属 >> 一般) : 資料館

長井技研ホームページ更新情報です。
今日はJIS規格で、H.非鉄金属に分類されるJIS規格リストのページを追加。以下です。

資料館JIS規格リストに、

JIS規格 >> H.非鉄金属 >> 一般

を掲載しました。

非鉄金属チタンシリコン合金検査試験方法測定方法 など、主に非鉄金属の一般に関するJIS規格リストのページになってます。

資料館 >> JIS規格 >> H.非鉄金属 >> 一般

非鉄金属,チタン,シリコン,合金,検査,試験方法,測定方法 など : JIS規格リスト(H.非鉄金属 >> 一般) : 資料館


このリストは、JIS規格で、『H.非鉄金属 >> 一般』に分類されている全てのJIS規格をリストアップしています。(廃止になったJIS規格は除く)
規格番号、発行年度、規格名称(日本語、英語表記併記)が確認できます。現時点の最新版です。

以下に同じ内容を掲載しておきます。
尚、ここで見るよりもメインサイトの『JIS規格 >> H.非鉄金属 >> 一般』の方が見やすいです。

板金加工、精密板金でよく利用される非鉄金属としては、アルミニウム(A5052P など)、(C1100P など)、真鍮(C2801P など)、りん青銅ばね用りん青銅(C5191P、C5210P)、ベリリウム銅、ばね用ベリリウム銅(C1700P、C1720P) などがあります。
尚、以下も参考になれば幸いです。

>> 板金加工・精密板金の材料
>> 材料の豆知識

JIS規格 >> H.非鉄金属 >> 一般

■ JIS H 0001:1998 アルミニウム,マグネシウム及びそれらの合金 ― 質別記号 Aluminium, magnesium and their alloys -- Temper designation

■ JIS H 0201:1998 アルミニウム表面処理用語 Glossary of terms used in the surface treatment of aluminium

■ JIS H 0211:1992 ドライプロセス表面処理用語 Glossary of terms used in surface treatments by dry processing

■ JIS H 0301:1997 非鉄金属地金のサンプリング,試料調製及び分析検査通則 General rules for sampling, sample preparation and analytical testing of non-ferrous metals

■ JIS H 0321:1973 非鉄金属材料の検査通則 General rules for inspection of non-ferrous metal materials

■ JIS H 0400:1998 電気めっき及び関連処理用語 Glossary of terms used in electroplating and related processes

■ JIS H 0401:1999 溶融亜鉛めっき試験方法 Methods of test for hot dip galvanized coatings

■ JIS H 0404:1988 電気めっきの記号による表示方法 Graphical symbol for electroplated coating

■ JIS H 0500:1998 伸銅品用語 Glossary of terms used in wrought copper and copper alloys

■ JIS H 0501:1986 伸銅品結晶粒度試験方法 Methods for estimating average grain size of wrought copper and copper alloys

■ JIS H 0502:1986 銅及び銅合金管のか(渦)流探傷試験方法 Method of eddy current testing for copper and copper alloy pipes and tubes

■ JIS H 0505:1975 非鉄金属材料の体積抵抗率及び導電率測定方法 Measuring methods for electrical resistivity and conductivity of non-ferrous materials

■ JIS H 0511:1990 スポンジチタンのブリネル硬さ測定方法 Testing methods for brinell hardness of titanium sponge

■ JIS H 0515:1992 チタン管の渦流探傷検査方法 Eddy current inspection of titanium pipes and tubes

■ JIS H 0516:1992 チタン管の超音波探傷検査方法 Ultrasonic inspection of titanium pipes and tubes

■ JIS H 0517:2004 チタン溶接管の差圧試験方法 Differential pressure testing method of titanium welded tubes

■ JIS H 0521:1996 アルミニウム及びアルミニウム合金の大気暴露試験方法 Methods for weathering test of aluminium and aluminium alloys

■ JIS H 0522:1999 アルミニウム鋳物の放射線透過試験方法及び透過写真の等級分類方法 Methods of radiographic test and classification by radiographs of aluminium castings

■ JIS H 0530:1993 復水器用銅合金管分極抵抗測定方法 Measurement methods of polarization resistance of copper alloy tubes for condenser

■ JIS H 0541:2003 マグネシウム及びマグネシウム合金のアルカリ性塩水腐食試験方法 Method of alkaline salt corrosion testing for magnesium and magnesium alloys

■ JIS H 0601:1962 ゲルマニウムの抵抗率測定方法 Testing methods of resistivity for germanium

■ JIS H 0602:1995 シリコン単結晶及びシリコンウェーハの4探針法による抵抗率測定方法 Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe

■ JIS H 0603:1978 ゲルマニウムの光導電減衰法によるライフタイム測定方法 Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method

■ JIS H 0604:1995 シリコン単結晶の光導電減衰法によるライフタイム測定方法 Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

■ JIS H 0607:1978 熱起電力法によるゲルマニウムの伝導型判定方法 Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method

■ JIS H 0609:1999 選択エッチング法によるシリコンの結晶欠陥の試験方法 Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques

■ JIS H 0610:1966 ゲルマニウムのエッチピット測定方法 Method of measurement of etch pit density of germanium crystal

■ JIS H 0611:1994 シリコンウェーハの厚さ,厚さむら及びボウの測定方法 Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

■ JIS H 0612:1975 シリコン単結晶ウェーハの4探針法による抵抗率測定方法 Testing methods of resistivity for single crystal silicon wafers with four point probe

■ JIS H 0613:1978 シリコンスライスウェーハ及びラップウェーハの外観検査 Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

■ JIS H 0614:1996 シリコン鏡面ウェーハの外観検査 Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces

■ JIS H 0615:1996 フォトルミネッセンスによるシリコン結晶中の不純物濃度測定方法 Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy

■ TR H 0001:1997 超伝導体の試験方法 ― 直流臨界電流の試験方法 ― 銅安定化ニオブ・チタン合金複合超伝導線データ集 SUPERCONDUCTIVITY -- Test method Part 1: Critical current -- Section 1: DC critical current of Cu/Nb-Ti composite superconductors Data Book

■ TR H 0002:2003 多孔質金属材料圧縮試験片 ― アルミニウム及びアルミニウム合金 Test pieces for compressive test for porous metallic materials -- Aluminium and aluminium alloys







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